Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal
Editorial: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia
ISBN: 84-362-5451-1
Any de publicació: 2006
Pàgines: 102
Congrés: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)
Tipus: Aportació a un congrés