Analysis of standards and specific documentation about equipment of dimensional metrology

  1. Martin, M.J.
  2. Flores, I.
  3. Sebastian, M.A.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X 1551-7616

ISBN: 9780735407220

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 1181

Seiten: 213-221

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.3273632 GOOGLE SCHOLAR