Desarrollo y caracterización electrooptica de pantallas planas de cristal liquido de gama alta
- José Manuel Otón Director/a
Universitat de defensa: Universidad Politécnica de Madrid
Any de defensa: 1999
- José Antonio Martín Pereda President/a
- Paloma Rodríguez Horche Secretari/ària
- José Luis Serrano Vocal
- José Miguel López Higuera Vocal
- Tomasz Matuszczyk Vocal
Tipus: Tesi
Resum
En el presente trabajo se estudian las propiedades que debe satisfacer una pantalla plana de cristal líquido antiferroeléctrico para pertenecer a la gama alta. Se han elegido estos materiales por su posibilidad intrínseca de generar escalas de gris en matriz pasiva. Ello permite realizar un análisis comparativo entre pantallas activas y pasivas basadas en los mismos materiales. En primer lugar se hace una revisión de las diferentes tecnologías que alcanzan la clasificación de pantallas de gama alta. A continuación se expone teóricamente las propiedades de la familia de cristal líquido antiferroeléctrica, se estudia su mecanismo de generación de grises, y se analizan comparativamente los prototipos comerciales basados en esta tecnología. Más adelante se describe de forma exhaustiva el proceso de fabricación de dispositivos realizado en el laboratorio Labor fur Bildschirmtechnik de la Universidad de Stuttgart, en que se han realizado pantallas antiferroeléctricas activas de diodos MIM y pasivas multiplexadas. De resultas de esta visita, se ha mejorado el proceso de fabricación de que se disponía en el laboratorio, incluyendo el diseño de un nuevo sistema de lavado, un alineador de máscaras que permite realizar el proceso fotolitográfico con mayor precisión, y un adaptador para el ensamblado de las pantallas, realizado sobre el propio alineador. Además, se ha puesto a punto un sistema electroóptico de caracterización, en el que se integran cuatro bancos ópticos en paralelo. Dentro de este apartado, se ha diseñado y construido un equipo medidor de cenit y azimut. Una vez puesto a punto el sistema de caracterización y fabricados los dispositivos antiferroeléctricos, se ha procedido a desarrollar un protocolo exhaustivo de caracterización electroóptica, que incluye desde la medida de parámetros generales (contraste, tiempos de respuesta, ángulos de visión,...) hasta el diseño de las forma