Noise characterization in scanning tunneling microscopy (STM)

  1. Aguilar, M.
  2. Pancorbo, M.
Revista:
Pattern Recognition Letters

ISSN: 0167-8655

Año de publicación: 1994

Volumen: 15

Número: 10

Páginas: 985-992

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0167-8655(94)90030-2 GOOGLE SCHOLAR