Fractal characterization by frequency analysis. II. A new method
- AGUILAR, M.
- ANGUIANO, E.
- PANCORBO, M.
ISSN: 1365-2818, 0022-2720
Año de publicación: 1993
Volumen: 172
Número: 3
Páginas: 233-238
Tipo: Artículo
Revista:
Journal of Microscopy