Die allocation optimization for yield improvement

  1. Ortega, C.
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Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 1997

Volumen: 3216

Páginas: 140-144

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.284690 GOOGLE SCHOLAR
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