Erratum: Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces (J. Microsc. 172, (1993) 223-232)
- Anguiano, E.
- Vazquez, F.
- Pancorbo, M.
- Aguilar, M.
ISSN: 0022-2720
Any de publicació: 1994
Volum: 174
Número: 2
Pàgines: 130
Tipus: Errata
ISSN: 0022-2720
Any de publicació: 1994
Volum: 174
Número: 2
Pàgines: 130
Tipus: Errata