Erratum: Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces (J. Microsc. 172, (1993) 223-232)

  1. Anguiano, E.
  2. Vazquez, F.
  3. Pancorbo, M.
  4. Aguilar, M.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 0022-2720

Any de publicació: 1994

Volum: 174

Número: 2

Pàgines: 130

Tipus: Errata