Erratum: Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces (J. Microsc. 172, (1993) 223-232)
- Anguiano, E.
- Vazquez, F.
- Pancorbo, M.
- Aguilar, M.
ISSN: 0022-2720
Datum der Publikation: 1994
Ausgabe: 174
Nummer: 2
Seiten: 130
Art: Erratum