Fractal characterization by frequency analysis: III. Effect of noise

  1. PANCORBO, M.
  2. ANGUIANO, E.
  3. AGUILAR, M.
Aldizkaria:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818 0022-2720

Argitalpen urtea: 1994

Alea: 176

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 54-62

Mota: Berrikuspena

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1994.TB03499.X GOOGLE SCHOLAR