Circuit Testing Based on Fuzzy Sampling with BDD Bases

  1. Pinilla, Elena
  2. Fernandez-Amoros, David
  3. Heradio, Ruben
Actas:
Proceedings of the 56th Hawaii International Conference on System Sciences

Editorial: University of Hawaiʻi at Mānoa

ISBN: 978-0-9981331-6-4

Año de publicación: 2023

Páginas: 1551-1560

Tipo: Aportación congreso

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