Circuit Testing Based on Fuzzy Sampling with BDD Bases

  1. Sediles, E.P.
  2. Fernandez-Amoros, D.
  3. Heradio, R.
Actas:
Proceedings of the Annual Hawaii International Conference on System Sciences

ISSN: 1530-1605

ISBN: 9780998133164

Año de publicación: 2023

Volumen: 2023-January

Páginas: 1551-1560

Tipo: Aportación congreso