Fractal characterization by frequency analysis: III. Effect of noise

  1. PANCORBO, M.
  2. ANGUIANO, E.
  3. AGUILAR, M.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Año de publicación: 1994

Volumen: 176

Número: 1

Páginas: 54-62

Tipo: Revisión

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1994.TB03499.X GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus