Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces

  1. ANGUIANO, E.
  2. PANCORBO, M.
  3. AGUILAR, M.
Zeitschrift:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 172

Nummer: 3

Seiten: 223-232

Art: Artikel

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1993.TB03416.X GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus