Analysis of the bias induced by voxel and unstructured mesh Monte Carlo models for the MCNP6 code in orthovoltage applications

  1. Isolan, L.
  2. De Pietri, M.
  3. Iori, M.
  4. Botti, A.
  5. Cagni, E.
  6. Sumini, M.
Revista:
Radiation Effects and Defects in Solids

ISSN: 1029-4953,  1042-0150

Any de publicació: 2019

Volum: 174

Número: 5-6

Pàgines: 365-379

Tipus: Article

DOI: 10.1080/10420150.2019.1596104 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus