Analysis of the bias induced by voxel and unstructured mesh Monte Carlo models for the MCNP6 code in orthovoltage applications

  1. Isolan, L.
  2. De Pietri, M.
  3. Iori, M.
  4. Botti, A.
  5. Cagni, E.
  6. Sumini, M.
Zeitschrift:
Radiation Effects and Defects in Solids

ISSN: 1029-4953,  1042-0150

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 174

Nummer: 5-6

Seiten: 365-379

Art: Artikel

DOI: 10.1080/10420150.2019.1596104 GOOGLE SCHOLAR

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