Analysis of the bias induced by voxel and unstructured mesh Monte Carlo models for the MCNP6 code in orthovoltage applications

  1. Isolan, L.
  2. De Pietri, M.
  3. Iori, M.
  4. Botti, A.
  5. Cagni, E.
  6. Sumini, M.
Revista:
Radiation Effects and Defects in Solids

ISSN: 1029-4953,  1042-0150

Año de publicación: 2019

Volumen: 174

Número: 5-6

Páginas: 365-379

Tipo: Artículo

DOI: 10.1080/10420150.2019.1596104 GOOGLE SCHOLAR
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