Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal
- Blanca López Araujo
- María de la Fe Rodríguez Muñoz
- Amparo Osca Segovia
- María Dolores Martínez Pérez
- Francisco Claro Izaguirre
Verlag: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia
ISBN: 84-362-5451-1
Datum der Publikation: 2006
Seiten: 102
Kongress: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)
Art: Konferenz-Beitrag