Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal

  1. Blanca López Araujo
  2. María de la Fe Rodríguez Muñoz
  3. Amparo Osca Segovia
  4. María Dolores Martínez Pérez
Buch:
VI Semana de Investigación de la Facultad de Psicología: Madrid, 20-24 de noviembre de 2006
  1. Francisco Claro Izaguirre

Verlag: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

ISBN: 84-362-5451-1

Datum der Publikation: 2006

Seiten: 102

Kongress: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)

Art: Konferenz-Beitrag