Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal
- Blanca López Araujo
- María de la Fe Rodríguez Muñoz
- Amparo Osca Segovia
- María Dolores Martínez Pérez
- Francisco Claro Izaguirre
Argitaletxea: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia
ISBN: 84-362-5451-1
Argitalpen urtea: 2006
Orrialdeak: 102
Biltzarra: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)
Mota: Biltzar ekarpena