Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal

  1. Blanca López Araujo
  2. María de la Fe Rodríguez Muñoz
  3. Amparo Osca Segovia
  4. María Dolores Martínez Pérez
Libro:
VI Semana de Investigación de la Facultad de Psicología: Madrid, 20-24 de noviembre de 2006
  1. Francisco Claro Izaguirre

Editorial: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

ISBN: 84-362-5451-1

Ano de publicación: 2006

Páxinas: 102

Congreso: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)

Tipo: Achega congreso

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