Tecnoestrés y satisfacción laboralpropuesta de un modelo causal

  1. Blanca López Araujo
  2. María de la Fe Rodríguez Muñoz
  3. Amparo Osca Segovia
  4. María Dolores Martínez Pérez
Livre:
VI Semana de Investigación de la Facultad de Psicología: Madrid, 20-24 de noviembre de 2006
  1. Francisco Claro Izaguirre

Éditorial: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

ISBN: 84-362-5451-1

Année de publication: 2006

Pages: 102

Congreso: Semana de Investigación de la Facultad de Psicología de la UNED (6. 2006. Madrid)

Type: Communication dans un congrès

DIALNET GOOGLE SCHOLAR
La source de données: Dialnet